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物理性能測試

研發(fā)技術(shù)中心擁有先進的儀器設備對實驗現(xiàn)象的觀察、分析和對物理量的測量提供技術(shù)支持。

服務項目

外觀檢查、尺寸測量、推拉力測試、疲勞測試、彎曲測試、端子強度測試等。

電氣性能測試

研發(fā)技術(shù)中心現(xiàn)有LCR測試儀、偏置電流源、智能安規(guī)測試儀、微電阻測試儀等先進的知名品牌儀器設備對實驗前后的性能變化提供技術(shù)數(shù)據(jù)支撐。

服務項目

阻抗測量、電感測量、電容測量、偏置電感測量、絕緣電阻測量、泄露電流測量、接地電阻、交直流耐壓、匝間耐壓測試、靜電放電測試等。

機械性能測試

產(chǎn)品在制造、運輸、粗率裝卸及使用過程中的復雜環(huán)境，鑒定產(chǎn)品是否有承受此環(huán)境的能力，用于發(fā)現(xiàn)早期故障，模擬實際工況考核和結(jié)構(gòu)強度試驗。

服務項目

高低頻正弦振動測試、隨機振動測試、機械沖擊測試等。

氣候環(huán)境測試

用于考核電工電子產(chǎn)品、元器件、材料等在高低溫、恒定濕熱、溫度循環(huán)變化等條件下，成品或元器件的使用及儲存適應性，是產(chǎn)品中應用最為廣泛的人工加速模擬試驗類型。

服務項目

高溫、低溫、高低溫循環(huán)、快速溫變、恒溫恒濕、交變濕熱、冷熱沖擊測試等。

元器件結(jié)構(gòu)分析

研發(fā)技術(shù)中心擁有先進高倍率放大測試儀，主要用于測量各種涂鍍層厚度，觀察材料內(nèi)部晶
體結(jié)構(gòu)及進行電子元器件的剖面觀察分析。

服務項目

觀察元器件外觀及部位的表面形狀、尺寸、結(jié)構(gòu)及裂縫缺陷等。

元器件結(jié)構(gòu)分析

研發(fā)技術(shù)中心擁有進口品牌日本巖崎B-H分析儀。用于檢測硅鋼板、鐵氧體、鐵粉芯、非晶體材料等軟磁性材料磁特性。

服務項目

最大磁通密度(Bm),剩余磁通密度(Br),最大磁場(Hm)矯頑磁力(Hc),角形比(Br/Bm),振幅比導磁率(ua),鐵損(Pc、Pcv、Pcm)電流電壓相位差(q),總磁通變化(2Φm)視在功率(VA),阻抗導磁率(uZ),復式本源導磁率(m'、m''),消耗因子(tanδ),電感(L),抵抗運動(R),阻抗(Z),品質(zhì)系數(shù)(Q)

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